深圳納加霍里科技專業(yè)代理銷售日本KITA半導(dǎo)體器件彈簧探針非磁性 KJW050-003CG 產(chǎn)品特點(diǎn)如下：

日本KITA半導(dǎo)體器件彈簧探針非磁性 KJW050-003CG 適用于磁敏感環(huán)境（如MRI設(shè)備、高精度傳感器測(cè)試）或避免磁化污染的半導(dǎo)體測(cè)試。

采用不銹鋼（SUS303/SUS304）或其他非磁性合金，避免磁場(chǎng)干擾。

1. 非磁性彈簧探針的核心特點(diǎn)

材料：

彈簧：特殊合金（如高彈力鎳合金），確保無磁且耐疲勞。

關(guān)鍵優(yōu)勢(shì)：

零磁干擾：適用于MRI設(shè)備、量子計(jì)算、高精度傳感器等對(duì)磁場(chǎng)敏感的場(chǎng)景。

高穩(wěn)定性：低接觸電阻（＜50mΩ），信號(hào)傳輸損耗極小。

耐腐蝕：鍍金層（通常≥0.5μm）抗氧化，延長(zhǎng)使用壽命。

2. 機(jī)械結(jié)構(gòu)

行程：0.3mm（具體以規(guī)格書為準(zhǔn)，短行程設(shè)計(jì)提高測(cè)試精度）。

彈簧力：輕壓力（如10-50gf），保護(hù)脆性器件（如晶圓、芯片）。

針頭形狀：可能為尖頭或平頭設(shè)計(jì)，適應(yīng)不同接觸面（需確認(rèn)型號(hào)細(xì)節(jié)）。

3. 主要應(yīng)用領(lǐng)域

半導(dǎo)體測(cè)試：

晶圓探針卡、芯片測(cè)試夾具（如Memory、Logic IC）。

射頻（RF）器件測(cè)試（需低阻抗探針）。

精密電子：

微型連接器（如FPC/FFC接口測(cè)試）。

醫(yī)療設(shè)備（如內(nèi)窺鏡模塊、植入式器件測(cè)試）。

特殊環(huán)境：

強(qiáng)磁場(chǎng)環(huán)境（實(shí)驗(yàn)室、粒子加速器配套設(shè)備）。

半導(dǎo)體測(cè)試：用于晶圓探針臺(tái)、芯片測(cè)試夾具。

PCB測(cè)試：高密度電路板的在線測(cè)試（ICT/FCT）。

精密電子：微型連接器、射頻模塊測(cè)試。

4. 優(yōu)勢(shì)

高精度：重復(fù)定位精度高（±μm級(jí)），適合高頻信號(hào)測(cè)試。

耐腐蝕：表面鍍金處理，抗氧化且延長(zhǎng)壽命。

兼容性：符合JIS或IPC標(biāo)準(zhǔn)，可與主流測(cè)試設(shè)備匹配。

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